涂镀层测厚仪/覆层测厚仪德国EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；可使用一片或二片标准箔校准。
涂镀层测厚仪/覆层测厚仪德国EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型存储的数据量：
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) | 99 |
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算，并可设宽容度极限值) | 99 |
可用各自的日期和时间标识特性的组数 | 500 |
数据总量 | 10000 |
/覆层测厚仪德国EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型统计计算功能：
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar | √ |
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ |
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar | √ |
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ |
存储显示每一个应用行下的所有组内数据 | √ |
分组打印以上显示和存储的数据和统计值 | √ |
显示并打印测量值、打印的日期和时间 | √ |
/覆层测厚仪德国EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型其他功能概述：
设置极限值 | √ |
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值 | √ |
连续测量模式中测量稳定后显示读数 | √ |
连续测量模式中显示zui小值 | √ |
/覆层测厚仪德国EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型所配探头与其他minitest机型*，请查阅其他款文档。
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
相关测厚仪探头配置请与我们。
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