首页 > 产品中心 > 涂装检测 > 涂层测厚仪 > 德国EPK MiniTest1100涂层膜厚仪

涂层膜厚仪

简要描述:德国EPK MiniTest1100涂层膜厚仪/测膜仪是minitest系列中Z经济型的一款,可以配备所有系列探头,EPK MiniTest1100配备磁性探头可以测量磁性金属基体上面的非磁性涂镀层;配备涡流探头可以测量非磁性金属基材上面的非导电涂层。

  • 产品型号:德国EPK MiniTest1100
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-07-08
  • 访  问  量:1588
产品详情

德国EPK MiniTest1100涂层膜厚仪/测膜仪系列MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;EPK(Elektrophysik)MiniTest系列所有型号均可配所有探头。
德国EPK MiniTest1100涂层膜厚仪/测膜仪技术规格:

型号

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存储的数据量

应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)

1

1

10

99

每个应用行下的组(BATCH)(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)

 

1

10

99

可用各自的日期和时间标识特性的组数

 

1

500

500

数据总量

1

10000

10000

10000

德国EPK MiniTest系列统计计算功能

读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

 

读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

 

 

组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

存储显示每一个应用行下的所有组内数据

 

 

 

分组打印以上显示和存储的数据和统计值

 

 

显示并打印测量值、打印的日期和时间

 

德国EPK MiniTest系列其他功能

设置极限值

 

 

连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值

 

 

连续测量模式中测量稳定后显示读数

 

 

连续测量模式中显示zui小值

 

 

德国EPK MiniTest1100/测膜仪

德国EPK(Elektrophysik)公司涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100可选探头参数:所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

探头

量程

低端
分辨率

误差

zui小曲率半径
(/)

zui小测量
区域直径

zui小基
体厚度

探头尺寸




 

 

 

 

 

 

 

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm



 

 

 

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm




 

 

 

 

 

 

 

 

 

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

无限制

φ17x80mm

F1.6/90F2/90N1.6/90N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

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