X射线荧光镀层无损测厚仪/x射线测厚仪/x射线光谱仪/x-ray镀层厚度测量仪MAXXI 5/COMPACT 5是镀层测厚和材料分析的通用仪器，能提供目前zui高的性价比。他们是既能满足*功能性，又能满足zui高的检测精度的理想工具。拥有强大的无标样分析软件，可通过无标样分析方法直接检测单层、双层膜层厚度，无需购备过多标样，节省费用。
X射线荧光镀层无损测厚仪/x射线测厚仪/x射线光谱仪/x-ray镀层厚度测量仪MAXXI 5/COMPACT 5操作软件介绍：
X-Master是一款具备庞大应用功能并被成功使用的软件，更多新的应用正不断地加入进来。
可选软件模块
µ-Master 用于镀层厚度测量
Element-Master 用于材料分析
Report-Master 用于微软报告文件
Data-Master 用于数据库管理
%-Master 用于材料分析（珠宝）
Liquid-Master 用于电镀液分析
/x射线测厚仪/x射线光谱仪/x-ray镀层厚度测量仪MAXXI 5/COMPACT 5规格介绍：
1、镀层和成份分析
镀层：zui多同时测定5层(4层镀层+基体材料) •成份：zui多同时测定20种元素
2、X射线激发
50kV、1.2mA (60W)高压发生器
微聚焦W靶X射线管
3、探测器
封气正比例计数器
25mm2 半导体(Si-PIN) 探测器，Peltier电制冷
4、数字脉冲处理器
4096 通道、数字式多道分析器
含死时间校正和脉冲堆积清除的自动数字信号处理器
5、准直器
单准直器任选：0.2mm x 0.5 mm, 0.3 mm, 0.4 mm, 0.5 mm Ø
多准直器程控交换：0.1 x 0.7mm, 0.2 x 0.7mm, 0.3mm,0.5mm Ø (可选件)
/x射线测厚仪/x射线光谱仪/x-ray镀层厚度测量仪MAXXI 5/COMPACT 5优势
操作简单
无损检测只需几秒钟
为质量保证和过程控制提供单层或多层分析
用于优化电镀液控制的金属离子含量分析
以X射线荧光技术进行无损分析
市场上zui高性价比
自动化批量检测：XYZ
应用行业：电子，珠宝，金属加工
/x射线测厚仪/x射线光谱仪/x-ray镀层厚度测量仪MAXXI 5/COMPACT 5样品台规格：
X-Y 手动样品台：600 x 600 mm; zui大承重25 kg;zui大样品高度175 mm 或者350 mm可调
X-Y 程控样品台：X-Y台面尺寸300 mm x 250 mm；zui大承重5 公斤；程控距离X=300,mm Y=250 mm（可选件)
程控Z 轴移动距离：180mm；可使用鼠标或者手柄控制
其他规格：
1、计算机/显示屏/操作系统
In Pentium G2030, 2G RAM, 500G硬盘(配置相当或者更高)
19" TFT 平板彩色显示器
MicrosoftTM Windows7 32 bit
2、成像系统
彩色视频系统
20 倍放大倍数
被测样品图像实时显示功能
电脑显示屏具有画中画功能
3、工作环境要求
50F (10C) - 95F (35C)
zui高98%相当湿度(无冷凝水)
推荐在空调环境中使用
4、zui大样品尺寸(长x 宽x 高)
X-Y 手动样品台： 600 x 500 x 350 mm
X-Y 程控样品台： 600 x 500 x 350 mm
5、仪器外形尺寸(长x 宽x 高）
700 x 770 x 700 mm
重量： 90 kg
测定元素范围Ti22 - U92
电源要求 110 V / 230 V 60 Hz / 50 Hz
